| 图片 |
标 题 |
更新时间 |
 |
气敏元件材料用纳米二氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度：光谱法分析测试杂质含量。晶粒度：X衍射（XRD）线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度：GB/T13221纳米粉末粒度分
|
2024-12-07 |
 |
银锡触头材料用纳米二氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度：光谱法分析测试杂质含量。晶粒度：X衍射（XRD）线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度：GB/T13221纳米粉末粒度分
|
2024-12-07 |
 |
抗静电材料用纳米二氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度：光谱法分析测试杂质含量。晶粒度：X衍射（XRD）线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度：GB/T13221纳米粉末粒度分
|
2024-12-07 |
 |
陶瓷釉料的遮光剂用纳米二氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度：光谱法分析测试杂质含量。晶粒度：X衍射（XRD）线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度：GB/T13221纳米粉末粒度分
|
2024-12-07 |
 |
化工原料用纳米二氧化锡
UG-S20;UG-S50纯 度：光谱法分析测试杂质含量。晶粒度：X衍射（XRD）线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度：GB/T13221纳米粉末粒度分
|
2024-12-07 |
 |
抑烟阻燃材料用纳米三氧化钼
物理数据纯度：＞99.99一次粒径：50；100nm （SEM）球形度：＞94比表面积：15-45 m2/g型号：UG-MO100，UG-MO50用途1催化剂；2电
|
2024-12-06 |
 |
传感器材料用纳米三氧化钼
物理数据纯度：＞99.99一次粒径：50；100nm （SEM）球形度：＞94比表面积：15-45 m2/g型号：UG-MO100，UG-MO50用途1催化剂；2电
|
2024-12-06 |
 |
电池电极材料用纳米三氧化钼
物理数据纯度：＞99.99一次粒径：50；100nm （SEM）球形度：＞94比表面积：15-45 m2/g型号：UG-MO100，UG-MO50用途1催化剂；2电
|
2024-12-06 |
产品分类